[发明专利]基于低秩全局几何一致性检验的错误匹配检测方法有效
申请号: | 201410084319.7 | 申请日: | 2014-03-10 |
公开(公告)号: | CN103823887B | 公开(公告)日: | 2017-02-15 |
发明(设计)人: | 林宙辰;林旸;杨李;查红彬 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | G06F17/30 | 分类号: | G06F17/30;G06K9/46 |
代理公司: | 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙)11360 | 代理人: | 朱红涛 |
地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种基于低秩全局几何一致性检验的错误匹配检测方法用SIFT及BoF提取并匹配两幅待比较图像中的特征点;计算两幅图像的平方距离矩阵并将之合并;将合并后的平方距离矩阵分解为一个真实匹配对组成的平方距离矩阵A和一个错误匹配造成的差异矩阵E;计算E矩阵各行列元素之和并排序,并计算排序后各和值的二次差分,取达到最大二次差分值的点作为门限值,所有行和高于门限值的对应特征点对判定为错误匹配对;去掉错误匹配对,根据真实匹配点对计算图像间的相似度,根据相似度大小排序输出图像检索结果。本发明简单高效,仅使用特征的坐标作为唯一输入信息,却能够处理造成重复图片差异的相似性变换,可以正确地检测所有错误匹配对。 | ||
搜索关键词: | 基于 全局 几何 一致性 检验 错误 匹配 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种基于低秩全局几何一致性检验的错误匹配检测方法,其特征是,包括如下步骤:步骤1:对于两幅待比较图像,首先使用尺度不变特征变换及词袋模型提取并匹配两幅图像中的特征点,得到两幅图像中各特征点的坐标:α1i=(x1i,y1i)T,α2i=(x2i,y2i)T,其中i的顺序为特征点匹配后的排序,T表示转置,α1i和α2i均为列向量;步骤2:分别计算两幅图像的平方距离矩阵D1和D2,之后合并两个平方距离矩阵为步骤3:将上述合并后的平方距离矩阵D分解为两部分,一部分为真实匹配对组成的平方距离矩阵A,该矩阵具有低秩性,另一部分为错误匹配造成的差异矩阵E,该矩阵应具有稀疏性;步骤4:计算E矩阵各行、列元素之和并混合在一起进行排序,然后计算排序后各行和值与列和值的二次差分,取达到最大二次差分值的点作为门限值,所有行和值或列和值高于门限值的,则对应特征点对判定为错误匹配对;步骤5:去掉错误匹配对,然后根据两幅图像的真实匹配点对来计算图像间的相似度,继而根据相似度由大到小排序输出图像检索结果。
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