[发明专利]一种超声显微伪彩色快速映射成像方法无效
| 申请号： | 201410080599.4 | 申请日： | 2014-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN103808804A | 公开（公告）日： | 2014-05-21 |
| 发明（设计）人： | 徐春广;彭凯;郭祥辉;肖定国;樊琼;杨柳 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01N29/06 | 分类号： | G01N29/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种超声显微伪彩色快速映射成像方法，利用高频超声可以对被测材料表面、亚表面及其内部一定深度内的细微结构进行显微成像，具有高灵敏度、高分辨率和图像直观等特点，适用于电子封装、复合材料及医学应用的超声检测领域。本方法通过设置被测试样的数据采集参数和扫查参数，并根据A扫信号设置闸门，获得每个扫查点数据闸门内峰值数据，将数据值转化为灰度值，将各个不同灰度值按照线性映射函数变换成不同的RGB颜色值，快速映射生成超声显微检测的伪彩色图像，使图像细节更易辨认，目标更易识别。该方法结合数据采集技术、图象重建技术、自动化技术，获得被测试样内部结构的伪彩色超声图像，为检测存在于被测试样中的缺陷尺寸、形状和分布提供辅助手段。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 超声 显微 彩色 快速 映射 成像 方法 | ||
【主权项】：
一种超声显微伪彩色快速映射成像方法,其特征在于:利用高频超声对被测材料表面、亚表面及其内部一定深度内的细微结构进行显微成像。通过设置数据采集参数和扫查参数，并根据A扫信号设置闸门，获得被测试样每个扫查点数据闸门内的峰值数据，将该数据转换为灰度值，将各个不同灰度值按照线性映射函数变换成不同的RGB颜色值，快速映射获得超声伪彩色图像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京理工大学，未经北京理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410080599.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
