[发明专利]一种利用存储器单元实现随机数发生的方法有效
| 申请号： | 201410066304.8 | 申请日： | 2014-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN104866280B | 公开（公告）日： | 2018-07-27 |
| 发明（设计）人： | 刘静;王国兵;肖金磊;王生鹏 | 申请（专利权）人： | 紫光同芯微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F7/58 | 分类号： | G06F7/58 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100083 北京市海淀区五*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种利用存储器单元实现随机数生成的方法，涉及硬件设计技术领域。本发明方法包括使用两组存储器单元，其方法步骤为：1）存储器单元一进行擦写测试，存储器单元二不进行操作而用于电流参考；2）定义两组存储器单元输出1和0的方式：定义存储器单元一和存储器单元二的漏源电流比值，当实时测试的漏源电流比值高于所定义的漏源电流比值时输出1，低于所定义的漏源电流比值时输出0；3）当存储器单元一和存储器单元二的实时测试的漏源电流比值处于所定义的漏源电流比值边界时，两组存储器单元输出无法确定为1还是为0，这时就会产生随机数序列。同现有技术相比，本发明能使随机数的产生具有易实现且占用硬件资源少的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 存储器 单元 实现 随机数 生成 方法 | ||
【主权项】：
1.一种利用存储器单元实现随机数生成的方法，其特征在于，所述方法使用包括两组存储器单元，其具体步骤为：1）存储器单元一进行擦写测试，存储器单元二不进行操作而用于电流参考；2）定义两组存储器单元输出1 和0 的方式：定义存储器单元一和存储器单元二的漏源电流比值，当实时测试的漏源电流比值高于所定义的漏源电流比值时输出1，低于所定义的漏源电流比值时输出0；3）当存储器单元一和存储器单元二的实时测试的漏源电流比值处于所定义的漏源电流比值边界时，两组存储器单元输出无法确定为1 还是为0，这时就会产生随机数序列。
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