[发明专利]分裂栅极非易失性存储器(NVM)单元及其方法有效

专利信息
申请号: 201410063137.1 申请日: 2014-02-25
公开(公告)号: CN104022119B 公开(公告)日: 2018-05-18
发明(设计)人: 姜盛泽;洪全敏 申请(专利权)人: 恩智浦美国有限公司
主分类号: H01L29/423 分类号: H01L29/423;H01L21/28;H01L29/792;H01L21/336
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 刘倜
地址: 美国得*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及分裂栅极非易失性存储器(NVM)单元及其方法。分裂栅极存储器结构包括:有源区的柱(14),具有设置在柱的第一端处的第一源极/漏极区、设置在柱的与第一端相对的第二端处的第二源极/漏极区、以及位于第一和第二源极/漏极区(42,38)之间的沟道区(40)。柱具有延伸于第一端和第二端之间的主表面,其中主表面暴露出第一源极/漏极区、沟道区和第二源极/漏极。选择栅极与第一源极/漏极区和沟道区的第一部分相邻,其中选择栅极围绕柱的主表面。电荷存储层与第二源极/漏极区和沟道区的第二部分相邻,其中电荷存储层围绕柱的主表面。控制栅极与电荷存储层相邻,其中控制栅极围绕柱。
搜索关键词: 分裂 栅极 非易失性存储器 nvm 单元 及其 方法
【主权项】:
1.一种分裂栅极存储器结构,包括:有源区的柱,具有设置在所述柱的第一端处的第一源极/漏极区、设置在所述柱的与所述第一端相对的第二端处的第二源极/漏极区、以及位于所述第一和第二源极/漏极区之间的沟道区,其中所述柱有延伸于所述第一端和所述第二端之间的主表面,其中所述主表面暴露所述第一源极/漏极区、所述沟道区和所述第二源极/漏极区;选择栅极,与所述第一源极/漏极区和所述沟道区的第一部分相邻,其中所述选择栅极围绕所述柱的所述主表面;电荷存储层,与所述第二源极/漏极区和所述沟道区的第二部分相邻,其中所述电荷存储层围绕所述柱的所述主表面;以及控制栅极,与所述电荷存储层相邻,其中所述控制栅极围绕所述柱,并且其中所述电荷存储层位于所述控制栅极和所述柱之间。
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