[发明专利]指纹比对方法

摘要

本发明公开了一种指纹比对方法，包括以下步骤对存储装置中所存储的指纹的特征点进行统计，得到每个特征点的权值；将待比对指纹的特征点与所述存储装置中的指纹的特征点进行比对；将所有比中的特征点结合所述比中的特征点的权值，得到最终相似度分数；根据所述最终相似度分数输出比对结果。本发明的指纹比对方法，通过读取存储装置中的指纹文件，并提取所述指纹的特征点，对特征点进行统计分析，得到每个特征点的权值；将待比对指纹的特征点与所述存储装置中的指纹的特征点进行比对，对于比中的特征点，结合特征点的权值，得到相似度分数；从而充分考虑一些特殊的特征点，提高自动比对的效果。

主权项

一种指纹比对方法，其特征在于，包括以下步骤：S10：读取存储装置中的指纹，提取所述存储装置中的指纹的特征点结构数据，进行预处理，得到预设指纹特征点数据；S15：剔除所述存储装置中无中心点的指纹、特征点个数少于预设值的指纹以及中心点位置的偏离超过阈值的指纹；S17：将所述存储装置中的指纹的中心点移至于统计区域的中心；S18：将所述存储装置中的指纹的中心角度调整为竖直方向；S20：对所述预设指纹特征点数据中的特征点进行统计，得到每个特征点的权值；S30：对待比对指纹进行处理，提取出待比对指纹的特征点数据；S40：将所述待比对指纹的特征点数据与预设指纹特征点数据进行比对；S50：将所有比中的特征点结合所述比中的特征点的权值，得到最终相似度分数；S60：根据所述最终相似度分数输出比对结果；其中，所述步骤S20具体为：S201：令N为所述存储装置中的指纹总数，M为指纹数组，第P枚指纹的特征点集合表示为其中p∈[1,N]内的整数，s∈[1,128]内的整数，为第P枚指纹的第s个特征点；S202：以所述指纹的中心点为中心，800×800像素为有效范围划定所述统计区域；S203：x,y,θ分别为描述特征点的三个参数，位于统计区域(xi,yj,θk)位置的第P枚指纹的第s特征点对应标记为则有，xps＝xi,yps＝yj,θps＝θk，其中i,j∈[0,799]内的整数，k∈[0,360)内的整数；S204：对于具体位置(xi,yj,θk)而言，其特征点分布统计数据设为t，则有式1‑1：S205：所述存储装置中的第P枚指纹的特征点集其对应的统计数据集合为则权值集合采用式1‑2进行计算，其中式1‑2为：