[发明专利]物质变温磁化率的测量方法及其测量装置

摘要

本发明公开了一种物质变温磁化率的测量方法，控制真空炉中温度达到预定温度，利用磁场发生器调整磁场梯度积的数值，在待测样品和样品管所处真空炉内空间区域产生特定的磁场梯度积稳恒区域，使待测样品和样品管完全处于磁场发生器形成的磁场梯度积稳恒区域中，然后通过电子天平分别测量预定温度下不同磁场梯度积时的待测样品和样品管的质量，通过计算得到一定温度下的待测样品的质量磁化率。本发明还提供一种物质磁化率测量装置。本发明解决磁化率的传统测量方法的局限性和误差较大的问题，不仅能够更加准确的测定未知物质的磁化率，而且还可以测定不同温度下物质的磁化率和不同晶向磁化率。

主权项

1.一种物质变温磁化率的测量方法，其特征在于，包括以下步骤： a. 先用电子天平分别称出待测样品的和样品管质量，然后将待测样品放置于样品管中；b. 将经过上述步骤a称重并装入样品管中的待测样品连同样品管整套放置于真空炉中，排除空气对待测样品的测试干扰；c. 控制真空炉中温度达到预定温度，利用磁场发生器调整磁场梯度积的数值，在待测样品和样品管所处真空炉内空间区域产生特定的磁场梯度积稳恒区域，使待测样品和样品管完全处于磁场发生器形成的磁场梯度积稳恒区域中，然后通过电子天平分别测量预定温度下不同磁场梯度积时的待测样品和样品管的质量，在磁场梯度积稳恒区域内，磁场梯度积的数值为常数，磁场梯度积为空间z轴方向上的磁感应强度与空间z轴方向上的磁场梯度的乘积，空间z轴方向为空间竖直方向；d.将电子天平在上述步骤a中和上述步骤c中所称出的待测样品的质量数据和样品管的质量数据分别输入计算机系统进行数据计算处理，得到在预定温度下和不同磁场梯度积下的待测样品的质量变化差值，即为待测样品在设定温度下随磁场梯度积变化时的质量增量；e．再通过利用在上述步骤d中的计算机系统计算出在一系列固定数值的磁场梯度积条件下的待测样品质量磁化率，通过求待测样品质量磁化率平均值，即可作为预定温度下的待测样品的质量磁化率。