[发明专利]标记和检测石墨烯层中的缺陷的方法和系统有效
| 申请号： | 201380075719.5 | 申请日： | 2013-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN105122044B | 公开（公告）日： | 2018-01-02 |
| 发明（设计）人： | T·A·耶格尔;S·A·米勒 | 申请（专利权）人： | 英派尔科技开发有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/91 | 分类号： | G01N21/91 |
| 代理公司： | 北京市铸成律师事务所11313 | 代理人： | 孟锐 |
| 地址： | 美国特*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 荧光团或其他指示剂可用于通过定位在一个或多个缺陷处并且不定位在石墨烯层的其他区域，标记和鉴定石墨烯层中的一个或多个缺陷。具有至少部分被石墨烯层覆盖的表面的衬底可接触荧光团，使得荧光团选择性结合由一个或多个缺陷暴露的下部衬底表面的一个或多个区域。可通过使衬底暴露于辐射而鉴定一个或多个缺陷。检测到的荧光团对辐射的荧光响应鉴定一个或多个缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 标记 检测 石墨 中的 缺陷 方法 系统 | ||
【主权项】：
标记石墨烯层中的一个或多个缺陷的方法，所述方法包括：提供具有至少部分被石墨烯层覆盖的表面的衬底；和使所述衬底接触指示剂，所述指示剂选择性结合由所述石墨烯层中的一个或多个缺陷暴露的所述衬底表面的一个或多个区域，以标记所述一个或多个缺陷。
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