[发明专利]光物理常数测量方法及光物理常数推测装置在审

专利信息
申请号: 201380070881.8 申请日: 2013-12-24
公开(公告)号: CN105308429A 公开(公告)日: 2016-02-03
发明(设计)人: 小西毅;高桥考二;川西健太郎 申请(专利权)人: 国立大学法人大阪大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 安香子;黄剑锋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 光物理常数测量方法,包括:分割步骤(S106),沿着传播方向虚拟地分割光传输介质,从而设定多个第一段;第一推测步骤(S108~S114),根据基于一模型的第一传播模拟的结果,推测多个第一段中每个段的光物理常数,在该模型中各个强度的输入光信号按顺序在多个第一段传播,在第一推测步骤中,采用对测量出的输出光信号的功率谱与作为第一传播模拟的结果而得到的输出光信号的功率谱的差异进行评价的评价函数,搜索多个第一段中每个段的光物理常数,从而推测多个第一段中每个段的光物理常数。
搜索关键词: 物理 常数 测量方法 推测 装置
【主权项】:
一种光物理常数测量方法,用于测量光传输介质的光物理常数的分布,所述光物理常数测量方法包括:获得步骤,获得表示多个强度的输入光信号的功率谱及相位谱的信息;测量步骤,按每个所述输入光信号的强度,测量该强度的所述输入光信号在所述光传输介质传播之后输出的输出光信号的功率谱;分割步骤,沿着传播方向虚拟地分割所述光传输介质,从而设定多个第一段;第一推测步骤,根据基于一模型的第一传播模拟的结果,推测所述多个第一段中每个段的光物理常数,在该模型中各个强度的所述输入光信号按顺序在所述多个第一段传播;以及输出步骤,将推测出的所述多个第一段的多个光物理常数,作为所述光传输介质的光物理常数的分布来输出,在所述第一传播模拟中,将获得的表示各个强度的所述输入光信号的功率谱及相位谱的信息和所述多个第一段中每个段的光物理常数作为输入来请求,并且将输出光信号的功率谱作为模拟结果来输出,在所述第一推测步骤中,采用对测量出的输出光信号的功率谱与作为所述第一传播模拟的结果而得到的输出光信号的功率谱的差异进行评价的评价函数,搜索所述多个第一段中每个段的光物理常数,从而推测所述多个第一段中每个段的光物理常数。
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