[发明专利]具有晶粒取向映射功能的实验室X射线微断层扫描系统在审
| 申请号： | 201380054570.2 | 申请日： | 2013-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN104737005A | 公开（公告）日： | 2015-06-24 |
| 发明（设计）人： | 迈克尔·费泽;克里斯蒂安·霍尔茨纳;埃里克·迈达尔·劳里森 | 申请（专利权）人： | 卡尔蔡司X射线显微镜公司 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 邓云鹏 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于三维晶粒取向映射方法及系统通过从实验室X射线源获取的宽带X射线束照射多晶样本，通过一个或多个X射线探测器从样本探测衍射束，及在样本在不同旋转位置时从所述衍射束处理数据以生成晶粒取向、位置和/或三维体积的三维重建。一个特定的锥形束几何形状，该几何形状利用具有扩展晶粒的反射上的发散光束的X射线源衍射X射线的事实，使得它们聚焦在衍射平面方向上。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 晶粒 取向 映射 功能 实验室 射线 断层 扫描 系统 | ||
【主权项】：
一种用于三维晶粒取向映射的方法，其特征在于，包括：使用从实验室X射线源发射的宽带X射线光束照射旋转的多晶样本；在一个或更多的X射线探测器上检测所述样本的衍射光束；及处理所述样本在不同旋转位置上的所述衍射光束的数据，以生成晶粒取向、位置、和/或三维体积的三维重建。
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