[发明专利]微粒测量装置

摘要

提供一种微粒测量装置，能够精确检测在通道内流动的微粒的位置。该微粒测量装置具有用于利用光照射通道内流动的微粒的光照射单元以及用于检测从微粒发出的散射光的散射光检测器，其中该散射光检测器设有用于收集从微粒发出的光的物镜，用于将由物镜收集的光中的散射光分离成第一散射光和第二散射光的光分离元件，用于接收S偏振光分量的第一散射光检测器，以及设置在光分离元件与第一散射光检测器之间并且向第一散射光施加象散的象散元件；并且该散射光检测器被设置使得从物镜的后侧主点至象散元件的前侧主点的长度(L)与象散元件的焦距(f)之间的关系满足以下公式(I)1.5f≤L≤2.5f(I)。

主权项

一种微粒测量装置，包括：光照射单元，被配置为利用光照射通过流道流动的微粒；以及散射光检测单元，被配置为检测来自所述微粒的散射光，所述散射光检测单元至少包括：物镜，被配置为收集从所述微粒发出的光；光分离元件，被配置为将通过所述物镜收集的所述光中的所述散射光划分为第一散射光和第二散射光；第一散射光检测器，被配置为接收所述第一散射光；以及象散元件，布置在所述光分离元件与所述第一散射光检测器之间，所述象散元件被配置为向所述第一散射光施加象散，其中从所述物镜的后侧主点至所述象散元件的前侧主点的长度L与所述象散元件的焦距f之间的关系满足以下公式(I)1.5f≤L≤2.5f    (I)。