[发明专利]光子计数X射线探测器有效
| 申请号： | 201380043287.X | 申请日： | 2013-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN104583806B | 公开（公告）日： | 2018-08-10 |
| 发明（设计）人： | E·勒斯尔;H·德尔;R·斯特德曼布克 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/17 | 分类号： | G01T1/17 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 李光颖;王英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于探测入射X射线光子(X)的方法和X射线探测器(100)。X射线探测器(100)包括至少一个传感器单元(105)以及至少一个通量传感器(104)，其中，在所述至少一个传感器单元中X射线光子(X)被转换成传感器信号(s)，所述至少一个通量传感器用于生成与光子(X)的通量相关的通量信号(f)。所述传感器信号(s)基于所述通量信号(f)被校正。在优选实施例中，所述传感器信号(s)表示谱分辨的脉冲计数。所述通量传感器(104)可以被集成到ASIC(103)中，所述ASIC被耦合到所述传感器单元(105)。 | ||
| 搜索关键词： | 光子 计数 射线 探测器 | ||
【主权项】：
1.一种X射线探测器(100、200)，包括：‑至少一个传感器单元(105、205)，其用于将入射X射线光子(X)转换成电传感器信号(s)，其中，所述传感器单元(105、205)包括转换材料(101、201)，所述转换材料用于将入射X射线光子(X)转换成电荷信号(q)，并且其中，至少一个电极(102、202)被耦合到所述转换材料(101、201)以用于感测所述电荷信号(q)；‑至少一个通量传感器(104、204)，其用于生成与入射X射线光子(X)的通量相关的通量信号(f)；‑数据处理系统，其用于基于所述通量信号(f)来校正所述传感器信号(s)，其中，所述数据处理系统包括处理电路，所述处理电路被定位邻近所述传感器单元(105、205)并被结合到所述电极以用于收集并处理所述传感器单元的传感器信号(s)；其中，所述通量传感器(104、204)被集成到所述处理电路中或者关于X射线入射的主方向被放置在所述处理电路的后面。
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