[发明专利]光学监测系统有效

专利信息
申请号: 201380035324.2 申请日: 2013-07-04
公开(公告)号: CN104736974B 公开(公告)日: 2017-08-08
发明(设计)人: E·A·D·奥斯丁;P·纳什 申请(专利权)人: 斯汀格雷地球物理有限公司
主分类号: G01D5/353 分类号: G01D5/353;G01D5/26;G01V1/22
代理公司: 永新专利商标代理有限公司72002 代理人: 林金朝,王英
地址: 英国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明描述了光学监测系统,其包括从询问器位置经由第一光学连接部和第二光学连接部询问的第一传感器阵列和第二传感器阵列。系统被配置为使波长在第一光学连接部和第二光学连接部中无法双向传输。在典型的系统中,光学连接部包括从传感器阵列到询问器位置的主干电缆。
搜索关键词: 光学 监测 系统
【主权项】:
一种光学感测系统,包括:询问器系统,包括:第一光学信号源,其被配置为输出第一组光学询问信号;第二光学信号源,其被配置为输出第二组光学询问信号,所述第一组光学询问信号的波长与所述第二组光学询问信号的波长不同;第一光学传感器阵列,其被配置为由所述第一组光学询问信号询问;第二光学传感器阵列,其被配置为由所述第二组光学询问信号询问;第一光学接收器,其用于接收所述第一组光学询问信号;第二光学接收器,其用于接收所述第二组光学询问信号;第一光学连接部,其用于将来自所述第一光学信号源的所述第一组光学询问信号耦合到所述第一光学传感器阵列,并且用于将来自所述第二光学传感器阵列的光学信号耦合到所述第二光学接收器;以及第二光学连接部,其用于将来自所述第二光学信号源的所述第二组光学询问信号耦合到所述第二光学传感器阵列,并且用于将来自所述第一光学传感器阵列的光学信号耦合到所述第一光学接收器。
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