[发明专利]筒在审
申请号: | 201380012932.1 | 申请日: | 2013-03-06 |
公开(公告)号: | CN104160271A | 公开(公告)日: | 2014-11-19 |
发明(设计)人: | F·里克特;R·麦克阿瑟;E·V·沃尔斯利-赫克斯特;J·D·考恩;L·T·史密斯;D·J·米尔斯 | 申请(专利权)人: | 赛诺菲-安万特德国有限公司 |
主分类号: | G01N33/487 | 分类号: | G01N33/487;A61B5/1486 |
代理公司: | 北京市嘉元知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11484 | 代理人: | 张永新 |
地址: | 德国法*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 一种用于插进仪表中的筒(700),包括:多个设置在筒内壁(703)上的筒支架;芯轴(702),安装成能够在筒内转动并能够在筒内沿着第一方向和第二方向纵向运动;以及多个测试构件(708),每个测试构件布置成由所述多个筒支架的至少一个临时支撑。每个测试构件包括孔(306),芯轴穿过孔定位。芯轴具有设置在其外表面上的芯轴支架(706)。每个芯轴支架能够在第一状态和第二状态之间运动。 | ||
搜索关键词: | 筒 | ||
【主权项】:
一种筒,用于插进仪表内,所述筒包括:多个筒支架,设置在筒的内壁上;芯轴,其安装成能够在筒内转动并能够在筒内沿第一方向和第二方向纵向运动;以及多个测试构件,每一个测试构件被布置为由所述多个筒支架的至少一个临时支撑,每一个测试构件包括孔,芯轴穿过孔定位,芯轴具有多个芯轴支架,芯轴支架设置在芯轴的外表面上,每一个芯轴支架能够在第一状态和第二状态之间运动,其中,在第一状态,芯轴支架的远端处于与芯轴的纵向轴线径向相距第一距离的位置,在第二状态,芯轴支架的远端处于与芯轴的纵向轴线径向相距更大距离的位置,并且其中,当芯轴支架的给定一个处于第二状态时,其远端靠着测试构件之一的表面定位,由此防止测试构件相对于芯轴沿着第二方向运动,其中,当芯轴相对筒沿第二方向前进时,芯轴支架能够从第二状态运动到第一状态,从而允许芯轴支架相对于测试构件沿第二方向运动经过测试构件,芯轴支架能够在运动经过测试构件后返回到第二状态,使得每一个芯轴支架靠着测试构件的不同的一个的表面定位,该不同的一个测试构件不同于芯轴支架曾经靠着定位的测试构件,并使得芯轴支架将力沿着第一方向从芯轴传递到测试构件,以使得测试构件随着芯轴沿着第一方向运动而沿着第一方向运动。
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