[发明专利]形成共形金属硅化物膜的方法有效
申请号: | 201380006555.0 | 申请日: | 2013-01-25 |
公开(公告)号: | CN104066871A | 公开(公告)日: | 2014-09-24 |
发明(设计)人: | 长谷川敏夫;多田国弘;山崎英亮;大卫·L·奥梅亚拉;格利特·J·莱乌辛克 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | C23C16/42 | 分类号: | C23C16/42 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 顾晋伟;郑斌 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供了一种用于在衬底上形成金属硅化物层的方法。根据一个实施方案,该方法包括:将衬底设置在处理室中;以第一衬底温度将衬底暴露于由包含金属前体的沉积气体生成的等离子体,其中等离子体暴露以自限性过程在衬底上形成共形的含金属层。该方法还包括:以第二衬底温度将含金属层在不存在等离子体的条件下暴露于还原气体,其中将上述暴露步骤交替地进行至少一次以形成金属硅化物层,并且沉积气体不包含还原气体。该方法提供了在具有高深宽比的深沟槽中形成共形金属硅化物。 | ||
搜索关键词: | 形成 金属硅 化物膜 方法 | ||
【主权项】:
一种在衬底上形成金属硅化物层的方法,包括:a)将所述衬底设置在处理室中;b)在第一衬底温度下将所述衬底暴露于由包含金属前体的沉积气体生成的等离子体,其中等离子体暴露以自限性过程在所述衬底上形成共形的含金属层;以及c)在第二衬底温度下将所述含金属层在不存在等离子体的条件下暴露于还原气体,其中将b)和c)交替地进行至少一次以形成所述金属硅化物层,并且其中所述沉积气体不包含所述还原气体。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的