[实用新型]二次雷达列馈测试台有效

专利信息
申请号: 201320849433.5 申请日: 2013-12-20
公开(公告)号: CN203658497U 公开(公告)日: 2014-06-18
发明(设计)人: 张虹;张晓燕 申请(专利权)人: 南京恩瑞特实业有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 南京知识律师事务所 32207 代理人: 汪旭东
地址: 211106 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 二次雷达列馈测试台,包括矢量网络分析仪,测试架,导轨,平板,测试箱体,测试电缆。测试箱体是内凹型且开口向下,测试探头位于内凹部分的正中间且置于测试箱体内,测试探头插座的上部是标准高频插座,置于测试箱体外,测试探头插座的下部置于测试箱体内且与测试探头固定连接。测试箱体底部包括与导轨相配的两个滑动轨道副。平板上设有支架且支架外侧设有定位块,导轨外侧面印制指示刻度,指示刻度的刻度值与所测列馈的振子位置对应,测试箱体外侧面设有定位指针,且定位指针与指示刻度位于同侧。
搜索关键词: 二次 雷达 测试
【主权项】:
二次雷达列馈测试台,包括矢量网络分析仪(2),所述的矢量网络分析仪(2)包括信号输入端口(2‑1)和信号输出端口(2‑2),其特征在于,还包括:测试架(4),导轨(3),平板(5),测试箱体(1),测试电缆(7);所述的测试架(4)包括两个高度相等的测试架(4);所述的导轨(3)包括两根平行的导轨,第一导轨(3‑1)和第二导轨(3‑2)所述的平板(5)包括至少四个平行的平板,第一平板(5‑1),第二平板(5‑2),第三平板(5‑3),第四平板(5‑4);所述的测试箱体(1)是内凹型且开口向下,测试探头(1‑2)位于内凹部分的正中间且置于测试箱体内(1),测试探头插座(1‑1)的上部是标准高频插座,置于测试箱体(1)外,测试探头插座(1‑1)的下部置于测试箱体(1)内且与测试探头(1‑2)固定连接;测试箱体(1)底部包括与导轨(3)相配的两个滑动轨道副(1‑3);所述的第一导轨(3‑1)和第二导轨(3‑2)通过第一平板(5‑1),第二平板(5‑2),第三平板(5‑3),第四平板(5‑4)相连;所述的第一平板(5‑1),第二平板(5‑2),第三平板(5‑3),第四平板(5‑4)依次与导轨(3)的下方固定连接,第二平板(5‑2)和第三平板(5‑3)上分别设有一个支架(8)且至少有一个支架(8)外侧设有定位块(9),第一平板(5‑1)和第四平板(5‑4)分别与两个测试架(4)固定连接且位于导轨(3)的端部; 所述的信号输入端口(2‑1)与测试探头插座(1‑1)通过测试电缆(7)连接;信号输出端口(2‑2)与所测列馈的总端口通过测试电缆(7)连接;所述的第一导轨(3‑1)或第二导轨(3‑2)外侧面印制指示刻度(6),指示刻度(6)的刻度值与所测列馈的振子位置对应;测试箱体(1)外侧面设有定位指针(1‑4),且定位指针(1‑4)与指示刻度(6)位于同侧;定位指针(1‑4)与测试探头(1‑2)竖直方向的对称轴平行且位于同一平面,该平面与测试箱体的内凹面平行。
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