[实用新型]绝缘子表面电导率采样装置所用的引流结构有效
| 申请号: | 201320788181.X | 申请日: | 2013-12-03 |
| 公开(公告)号: | CN203587732U | 公开(公告)日: | 2014-05-07 |
| 发明(设计)人: | 蒋渊博;马文伟 | 申请(专利权)人: | 中铁第五勘察设计院集团有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02;G01R1/06;G01R19/15 |
| 代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人: | 郑立明;赵镇勇 |
| 地址: | 102600*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | 本实用新型公开了一种绝缘子表面电导率采样装置所用的引流结构,包括第一金属半环和第二金属半环,第一金属半环与第二金属半环围成圆环套接在棒形绝缘子的接地端,圆环通过引流线连接至泄露电流传感器。可以将流过绝缘子表面的泄露电流引出,可在运行电压下将流过的绝缘子表面的泄露电流引出并传输至泄露电流传感器。 | ||
| 搜索关键词: | 绝缘子 表面 电导率 采样 装置 所用 引流 结构 | ||
【主权项】:
一种绝缘子表面电导率采样装置所用的引流结构,其特征在于,包括第一金属半环和第二金属半环,所述第一金属半环与第二金属半环围成圆环套接在棒形绝缘子的接地端,所述圆环通过引流线连接至泄露电流传感器。
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