[实用新型]洗净设备有效
申请号: | 201320739198.6 | 申请日: | 2013-11-20 |
公开(公告)号: | CN203659818U | 公开(公告)日: | 2014-06-18 |
发明(设计)人: | 黄富源;张修凯;王玺钧;王志成 | 申请(专利权)人: | 弘塑科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 于宝庆 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种洗净设备,适于去除一晶片堆迭结构上残留的助焊剂,其中该晶片堆迭结构具有至少一位于晶片与基板之间的微小间隙,且该微小间隙具有可让液体流通的一流入侧及一流出侧,该洗净设备包括一清洗腔室、一承载平台、一供液装置及一抽液装置,其中所述承载平台设置于所述清洗腔室内,所述供液装置及所述抽液装置设置于所述承载平台的上方,其中所述供液装置可施加一化学清洗液于所述基板上并从所述流入侧进入所述微小间隙,所述抽液装置则可驱使所述化学清洗液流通过所述微小间隙并自所述流出侧排出,以完全带走残留于所述微小间隙内的助焊剂。 | ||
搜索关键词: | 洗净 设备 | ||
【主权项】:
一种洗净设备,用于去除一晶片堆迭结构上残留的助焊剂,其中该晶片堆迭结构具有至少一位于所述晶片与基板之间的微小间隙,且所述微小间隙具有可让液体流通的一流入侧及一流出侧,其特征在于,所述洗净设备包括:一清洗腔室;一承载平台,设置于所述清洗腔室内;一供液装置,设置于所述承载平台的上方,用以将一化学清洗液施加于所述基板上,并使所述化学清洗液沿着所述基板从所述流入侧进入所述微小间隙;及一抽液装置,设置于所述承载平台的上方,用以驱使所述化学清洗液流通过所述微小间隙并自所述流出侧排出,以完全带走残留于所述微小间隙内的助焊剂。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造