[实用新型]一种微波放大器测试座有效

专利信息
申请号: 201320612581.5 申请日: 2013-09-30
公开(公告)号: CN203479845U 公开(公告)日: 2014-03-12
发明(设计)人: 袁文;邱云峰;张文辉;雷芸 申请(专利权)人: 贵州航天计量测试技术研究所
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 贵阳中新专利商标事务所 52100 代理人: 吴无惧
地址: 550009 *** 国省代码: 贵州;52
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摘要: 实用新型公开了一种微波放大器测试座,它包括测试电路板(6),测试电路板(6)位于测试支架(1)的上表面,测试电路板(6)上有测试孔针(5),测试孔针(5)与微带线(7)连接,在测试支架(1)上有接头(2)和金属电极(4),接头(2)的内芯和金属电极(4)与测试电路板(6)下表面的微带线(7)连接;解决了现有技术对大功率有源微波放大器测试时需要直接焊接测试线在器件引脚上存在的测试效率低,不适用于大批量测试工作,且会给被测器件带来机械损伤,在测试过程中接触不良、接地面积不够、固定不牢、容易造成较大的测试数据误差等问题。
搜索关键词: 一种 微波 放大器 测试
【主权项】:
一种微波放大器测试座,它包括测试电路板(6),其特征在于:测试电路板(6)位于测试支架(1)的上表面,测试电路板(6)上有测试孔针(5),测试孔针(5)与微带线(7)连接,在测试支架(1)上有接头(2)和金属电极(4),接头(2)的内芯和金属电极(4)与测试电路板(6)下表面的微带线(7)连接。
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