[实用新型]一种新型的内存条测试治具有效

专利信息
申请号: 201320432809.2 申请日: 2013-07-19
公开(公告)号: CN203397348U 公开(公告)日: 2014-01-15
发明(设计)人: 刘胜;范志超 申请(专利权)人: 浪潮电子信息产业股份有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 250101 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 一种新型的内存条测试治具,由一内存插槽和一板卡组成,所述板卡设置在内存插槽下方,所述内存插槽为单一的DIMM插槽用于安装测试内存条,所述板卡的长度同测试内存条的长度一致,板卡两端设置有同测试内存条两端凹口一样的凹口,该测试治具通过两端凹口与主板上DIMM插槽的两固定端紧扣安装在DIMM插槽中;同时该治具还连接一外部电阻,并在测试内存条时连入外围测试电路。使用该治具,相当于升高内存条将其从主板DIMM插槽上单独解出来进行测试,方便进行内存条的电压、电流方面的拉偏测试,且通过外接电阻方便的测试出单条内存的功耗值,并提高了测试的准确性;该治具结构简单、成本低廉、使用方便,具有较好的推广价值。
搜索关键词: 一种 新型 内存条 测试
【主权项】:
一种新型的内存条测试治具,其特征在于,由一内存插槽和一板卡组成,所述板卡设置在内存插槽下方,所述内存插槽为单一的DIMM插槽用于安装测试内存条,所述板卡的长度同测试内存条的长度一致,板卡两端设置有同测试内存条两端凹口一样的凹口,该测试治具通过两端凹口与主板上DIMM插槽的两固定端紧扣安装在DIMM插槽中;同时该治具还连接一外部电阻,并在测试内存条时连入外围测试电路。
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