[实用新型]一种探针框架及基板测试设备有效
| 申请号： | 201320427494.2 | 申请日： | 2013-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN203365490U | 公开（公告）日： | 2013-12-25 |
| 发明（设计）人： | 刘冲 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100176 北京市大*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种探针框架及基板测试设备，涉及基板测试技术领域。通过在不拆除探针框架的前提下，对发生折断的探针进行更换，从而节约了人力资源，提高了设备运行的稼动率和生产效率。探针框架包括至少一个探针孔，该探针孔内壁设置有固定套筒，该固定套筒的内部设置有探针，该固定套筒的一端还设置有与固定套筒可拆卸连接的连接部。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 探针 框架 测试 设备 | ||
【主权项】：
一种探针框架，包括至少一个探针孔，所述探针孔内壁设置有固定套筒，所述固定套筒的内部设置有探针，其特征在于，所述固定套筒的一端还设置有与所述固定套筒可拆卸连接的连接部。
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