[实用新型]一种薄片样品的测量装置有效
| 申请号： | 201320400126.9 | 申请日： | 2013-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN203310342U | 公开（公告）日： | 2013-11-27 |
| 发明（设计）人： | 常永勤;郭强 | 申请（专利权）人： | 北京科技大学 |
| 主分类号： | G01B5/06 | 分类号： | G01B5/06 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种薄片样品的测量装置，涉及测量装置，尤其涉及一种粘有带孔支撑物的薄片样品厚度测量的装置。主要包括螺旋测微器、金属导电钢针和欧姆表。本装置可以实现精确测量粘带孔支撑物薄片样品以及类似样品的厚度，提高了测量的便利性以及准确性。本实用新型的有益效果是：通过上述方案，可以精准地测量粘带孔支撑物薄片样品厚度的特殊要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 薄片 样品 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种薄片样品的测量装置，其特征在于：测量装置包括螺旋测微器、金属导电钢针（1）、绝缘支架（2）和欧姆表（4）；金属导电钢针（1）与螺旋测微器自由端之间通过绝缘支架（4）相连；欧姆表（4）的两端分别与螺旋测微器固定端和金属导电钢针（1）相连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京科技大学，未经北京科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201320400126.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
