[实用新型]一种用于光电耦合器的检验装置有效

专利信息
申请号: 201320010175.1 申请日: 2013-01-09
公开(公告)号: CN203084119U 公开(公告)日: 2013-07-24
发明(设计)人: 任广清 申请(专利权)人: 长春迪瑞医疗科技股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 代理人: 杨宏
地址: 130012 吉林省长*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 实用新型公开了一种用于光电耦合器的检验装置,其包括底板,其中,所述底板的两端分别设置有导柱,导柱上设置有定位板,所述定位板上设置有用于放置光电耦合器的工位,所述工位上设置有限位块,导柱上端设置有引脚安装板,所述引脚安装板两端分别设置有能沿导柱滑动的滑块,所述引脚安装板与所述定位板之间的导柱上分别设置有弹性部件。当下压引脚安装板时,引脚安装板上的引脚会插入到放置在定位板的光电耦合器中进行对应项目的检测,提高了对光电耦合器的检验准确性,能完成对微小型光电耦合器的功能性能检验,提高了对光电耦合器的检验效率,并且本实用新型具有操作简单、自动化程度高、成本低等优点。
搜索关键词: 一种 用于 光电 耦合器 检验 装置
【主权项】:
一种用于光电耦合器的检验装置,其包括底板,其特征在于,所述底板的两端分别设置有导柱,导柱上设置有定位板,所述定位板上设置有用于放置光电耦合器的工位,所述工位上设置有限位块,导柱上端设置有引脚安装板,所述引脚安装板两端分别设置有能沿导柱滑动的滑块,所述引脚安装板与所述定位板之间的导柱上分别设置有弹性部件。
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