[发明专利]用于测量物理量的测量装置在审
| 申请号： | 201310757336.8 | 申请日： | 2013-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN103837271A | 公开（公告）日： | 2014-06-04 |
| 发明（设计）人： | R·兹维泽;S·伯韦尔林;S·格伦胡伊岑;W·克莱森 | 申请（专利权）人： | 森萨塔科技公司 |
| 主分类号： | G01L1/18 | 分类号： | G01L1/18 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 曹珂琼 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于测量物理量的测量装置(100)。该物理量可以是压力和/或作用力。测量装置包括具有膜片区段(102A)的圆形感测结构(102)，当作用到圆形感测结构(102)的力变化时，膜片区段偏转。第一和第二应变计附接至膜片区段。第一应变计构造用于测量膜片区段的第一表面区域中的径向应变。第二应变计构造用于测量膜片区段的第二表面区域中的切向应变。作用到传感结构上的作用力增加导致由第一应变计测量的第一表面区域收缩和由第二应变计测量的第二表面区域拉伸。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 物理量 装置 | ||
【主权项】：
一种用于测量物理量的测量装置(100)，该测量装置包括：‑圆形感测结构(102)，该圆形感测结构具有膜片区段(102A)，该膜片区段通过作用在所述圆形感测结构(102)的作用力变化而偏转；以及，‑附接至所述膜片区段的第一应变计和第二应变计，所述第一应变计构造用于测量所述膜片区段的第一表面区域中的应变，而所述第二应变计构造用于测量所述膜片区段的第二表面区域中的应变，作用在所述圆形感测结构上的作用力增加导致由所述第一应变计测量的所述第一表面区域收缩并导致由所述第二应变计测量的所述第二表面区域拉伸，其特征在于，所述第一应变计(103)测量所述膜片区段中的径向应变，而所述第二应变计(104)测量所述膜片区段中的切向应变。
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