[发明专利]一种等离子处理装置在审
申请号: | 201310745000.X | 申请日: | 2013-12-23 |
公开(公告)号: | CN103745903A | 公开(公告)日: | 2014-04-23 |
发明(设计)人: | 任知良;王明刚;王雪梅 | 申请(专利权)人: | 青岛润鑫伟业科贸有限公司 |
主分类号: | H01J37/32 | 分类号: | H01J37/32 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 266000 山东省青*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明提供一种等离子体处理装置,其包括:真空处理室;第一电极,位于所述真空处理室内,所述第一电极上方安装有放置待处理晶圆的平台,所述第一电极与两个射频电源电连接,所述第一电极为圆柱形,其中第一射频源大于第二射频源频率的2倍,所述第一射频电源的频率大于50MHz,所述第二射频源频率小于25MHz;非电介质材料层,位于所述第一电极与放置待处理晶圆的平台之间,所述非电介质材料层的电阻率大于所述第一电极的电阻率;第二电极,位于所述真空处理室内的与所述第一电极相对设置的位置。另外,所述非电介质材料层的电阻率范围为60欧姆/厘米到100欧姆/厘米,所述非电介质料层为圆柱形、圆台形、圆锥形、台阶形。 | ||
搜索关键词: | 一种 等离子 处理 装置 | ||
【主权项】:
一种等离子体处理装置,包括:真空处理室;第一电极,位于所述真空处理室内,所述第一电极上方安装有放置待处理晶圆的平台,所述第一电极与两个射频电源电连接,所述第一电极为圆柱形,其中第一射频源大于第二射频源频率的2倍,所述第一射频电源的频率大于50MHz,所述第二射频源频率小于25MHz;非电介质材料层,位于所述第一电极与放置待处理晶圆的平台之间,所述非电介质材料层的电阻率大于所述第一电极的电阻率;第二电极,位于所述真空处理室内的与所述第一电极相对设置的位置。
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