[发明专利]双通道高能X射线透视成像系统有效

专利信息
申请号: 201310741677.6 申请日: 2013-12-30
公开(公告)号: CN104749198B 公开(公告)日: 2019-08-06
发明(设计)人: 唐华平;陈志强;唐传祥;陈怀璧;李元景;赵自然;刘耀红;孙尚民;阎忻水;秦占峰 申请(专利权)人: 同方威视技术股份有限公司;清华大学
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 江鹏飞;汪扬
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明通过电子加速器、屏蔽准直装置、第一探测器阵列、第二探测器阵列、各种机械组合结构的设计,利用仅一台电子加速器、两组X射线束流和两组探测器系统,同时对两个通道内的受检查对象进行透视成像。根据本发明的双通道高能X射线透视成像系统可以设计为固定式、组合式、轨道移动式或车载移动式等具体形势,具有结构简单、成本低、功能强、图像质量好等优点。
搜索关键词: 双通道 高能 射线 透视 成像 系统
【主权项】:
1.一种双通道高能X射线透视成像系统,包括:单台高能电子加速器、屏蔽准直装置、第一检查通道、第二检查通道、第一探测器阵列、第二探测器阵列、第三探测器阵列、第四探测器阵列、电源与控制子系统、信号分析与图像处理子系统;其中,高能电子加速器包括电子发射单元、电子加速单元、靶,产生的电子束流具有2MeV以上的能量;屏蔽准直装置包括屏蔽结构和四个准直器;第一准直器和第三准直器设置在电子束流的轴线的一侧,第二准直器和第四准直器设置在电子束流的轴线的另一侧;所述第一检查通道和第二检查通道分别位于电子加速器的两侧;第一准直器、第一探测器阵列与电子束流打靶的靶点处于第一平面内,第二准直器、第二探测器阵列与电子束流打靶的靶点处于第二平面内,第三准直器、第三探测器阵列与电子束流打靶的靶点处于第三平面内,第四准直器、第四探测器阵列与电子束流打靶的靶点处于第四平面内;所述第一探测器阵列和所述第三探测器阵列相对于所述第一检查通道具有不同的视角,所述第二探测器阵列和所述第四探测器阵列相对于所述第二检查通道具有不同的视角;所述第一准直器、第二准直器、第三准直器和第四准直器具有均匀的缝隙厚度,并且所述第一探测器阵列、第二探测器阵列、第三探测器阵列和第四探测器阵列是由多个探测器构成的C形排列。
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