[发明专利]一种ESD保护器件及适用于电池管理芯片的ESD电路有效
申请号: | 201310733250.1 | 申请日: | 2013-12-26 |
公开(公告)号: | CN103745973A | 公开(公告)日: | 2014-04-23 |
发明(设计)人: | 付佳;赵野;郝炳贤;姜伟;杜晓伟 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L23/60 | 分类号: | H01L23/60;H01M10/48;H01M10/42 |
代理公司: | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人: | 刘杰 |
地址: | 100029 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及ESD技术领域,公开了一种ESD保护器件及适用于电池管理芯片的ESD电路。其中,ESD保护器件包括:衬底、埋入层、高压N阱区、高压P阱区、低压P阱区及低压NMOS管;埋入层在衬底上;高压P阱区在埋入层上;低压P阱区在高压P阱区上;低压NMOS管在低压P阱区内;高压N阱区在高压P阱区的外部,并与埋入层接触;低压NMOS管的栅极与源极连接,并连接到高压P阱区上作为保护器件的正极;低压NMOS管的漏极与高压N阱区连接,作为保护器件的负极。本发明中的ESD保护器件的两端均可以接高电平,ESD电路中的ESD保护器件一一对应地与电池的两端连接,实现了对电池管理芯片的ESD保护。 | ||
搜索关键词: | 一种 esd 保护 器件 适用于 电池 管理 芯片 电路 | ||
【主权项】:
一种ESD保护器件,其特征在于,包括:衬底、埋入层、高压N阱区、高压P阱区、低压P阱区及低压NMOS管;所述埋入层在所述衬底上;所述高压P阱区在所述埋入层上;所述低压P阱区在所述高压P阱区上;所述低压NMOS管在所述低压P阱区内;所述高压N阱区在所述高压P阱区的外部,并与所述埋入层接触;所述低压NMOS管的栅极与源极连接,并连接到所述高压P阱区上作为保护器件的正极;所述低压NMOS管的漏极与所述高压N阱区连接,作为保护器件的负极。
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