[发明专利]一种修复缺陷像素的方法、系统及显示面板有效
| 申请号： | 201310700535.5 | 申请日： | 2013-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN103676236B | 公开（公告）日： | 2017-01-04 |
| 发明（设计）人： | 秦卫;邓玉新;钮曼萍 | 申请（专利权）人： | 合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/1362 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司11002 | 代理人： | 李迪 |
| 地址： | 230012 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种修复缺陷像素的方法、系统及显示面板，其中方法包括：对缺陷像素进行中心定位以获取所述缺陷像素的中心坐标；根据所述中心坐标对所述缺陷像素进行修复。该方法能够定位到显示模板上存在的亮点的缺陷像素的中心坐标，实现准确定位，之后根据所得的中心坐标对缺陷像素进行修复，用自动进行的中心坐标定位代替原有的人工对位操作，不仅加快对缺陷像素的修复速度，还能提高修复效率，提高设备的整体效率及产能，同时还能避免由于人工操作产生误差带来的修复不成功的问题，进行自动的中心定位可以提高修复的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 修复 缺陷 像素 方法 系统 显示 面板 | ||
【主权项】：
一种修复缺陷像素的方法，其特征在于，包括：对缺陷像素进行中心定位以获取所述缺陷像素的中心坐标；根据所述中心坐标对所述缺陷像素进行修复；对所述缺陷像素进行修复之后还包括：检测所述缺陷像素区域的亮度大小，得到预设亮度；对所述缺陷像素进行修复之后，对所述缺陷像素未修复区域进行遮挡，以对所述缺陷像素的修复区域进行亮度检测，得到修复亮度；根据预设亮度和修复亮度对修复效果进行判定。
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