[发明专利]一种无源互调干扰的矢量测量方法有效

专利信息
申请号: 201310689443.1 申请日: 2013-12-16
公开(公告)号: CN103675448B 公开(公告)日: 2017-04-19
发明(设计)人: 杨保国;王尊峰;李树彪;李明太;郭永瑞;马景芳 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: H04B3/46 分类号: H04B3/46
代理公司: 北京天奇智新知识产权代理有限公司11340 代理人: 陈永宁
地址: 266555 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明提供一种无源互调干扰的矢量测量方法,首先计算机模块调节频率参考单元的输出频率,输出频率参考信号。功分后分别供信号源1、信号源2和本振源模块使用,生成频率F1、F2的测试信号和L0的本振信号。测试信号F1和F2功分后,一部分经放大器模块放大,合路产生测试使用+43dBm双音信号,另一部分通过倍频模块后相互混频,滤波后为频率2F1‑F2,由参考接收机接收作为PIM参考信号。采用上述方案,可进行仪器的自身互调校准,对仪器的自身互调进行矢量补偿,大大降低系统的自身互调、增大系统测量范围、减小测量不确定度;测试结果可直接应用时‑频转换技术,观测PIM产物的时域响应。
搜索关键词: 一种 无源 调干 矢量 测量方法
【主权项】:
一种无源互调干扰的矢量测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:计算机模块调节频率参考单元的输出频率参考信号,功分后分别供第一信号源及第二信号源及本振源模块使用,生成频率F1、F2的测试信号和本振信号L0;步骤2:第一信号源功分或耦合为两路信号,分别第一路信号及第二路信号,第一路信号进入倍频单元,第二路信号进入功放;第二信号源功分或耦合为两路分别为第三路信号及第四路信号,第三路信号进入倍频单元,第四路信号进入功放;步骤3:第一路信号及第三路信号通过混频、滤波后形成PIM参考信号,进入接收机R通道待处理;步骤4:放大后的第二路信号及第四路信号经过合路器、双工器形成测试所需+43dBm双音信号加载于被测件,被测件产生PIM干扰信号由双工器分离进入接收机A通道待处理;步骤5:进入接收机R通道的PIM参考信号和接收机A通道PIM干扰信号,利用本振信号L0进行混频接收,产生PIM参考的中频信号及PIM干扰的中频信号,使用A/D采样器采样后形成数字信号进入DSP矢量处理模块待处理;步骤6:DSP矢量处理模块使用数字本振I/Q分解接收方法,分别获得PIM参考信号的幅度和相位及PIM干扰信号的幅度和相位,表达为复数形式,令PIM参考信号为R,PIM干扰信号为A,则系统测试结果表示为:SP11M=A*|R|/R;步骤7:接入低互调负载,其测量数据表达为M1,记录数据待处理;步骤8:接入标定过的+110dBm标准件,所述标准件只标定幅度,设标准件PIM干扰表达为只标定了幅度A,本次测量数据表达为M2,即M2=SP11M,记录数据待处理;步骤9:接入被测件,设其测量结果表达为PIM11,PIM11=SP11M,校准后的修正结果表达为PIM′11,则PIM11′=SP11M-M1M2-M1|PIM11S|]]>校准的具体步骤为:所述步骤1‑步骤9中,测量中产生的误差为一个干扰向量,在PIM矢量测试仪的测试结果中将所述干扰向量抵消,获得校准后的PIM干扰测量结果;所述干扰向量消除的方法包括以下步骤:步骤101:建立反射PIM测试时系统的误差模型;步骤102:系统双音测试信号表示为2xRF,测量的PIM值为SP11M;系统的反射自身互调表示为PIMDF,传输自身互调为PIMRF;被测件反射PIM的反射跟踪误差为ERF,源匹配误差为ESF;被测件产生前向PIM干扰为PIM21,反射PIM干扰为PIM11,S参数以SNN形式给出;负载产生的反射PIM表示为PIMLF,前向PIM表示为PIMTF,加载于被测件的功率使用功率计校准为+43dBm;测量的SP11M表达式即为,公式一:SP11M=PIMDF+PIM11*ERF+PIMRFS11*ERF;步骤103:将S11设置小于‑30dB,则被测件引起的传输PIM反射最多‑135dBm,小于噪声基底,所以忽略PIMRFS11一项,那么,被测件的互调产物为,公式二:PIM11=SP11M-PIMDFERF;]]>步骤104:进行校准时,将PIM矢量测试仪接入负载,其误差模型可简化为公式三:M1=PIMDF;步骤105:将标定过的‑110dBm@2x(+43dBm)的连接器接入系统,则误差模型为公式四:M2=PIMDF+PIM11S*ERF+PIMRFS11*ERF步骤106:将幅度和相位分别表达,令介于目前的测试手段,只有A经过标定,则由公式二、公式三及公式四可得公式五:PIM11′=SP11M-M1M2-M1|PIM11S|;]]>PIM′11定义为被测件DUT产生的相对于测量端口的PIM产物,其幅度为待测PIM产物幅度,相位差代表了PIM产生位置和测量端口的电距离。
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