[发明专利]一种同时测量HF转动温度和振动能级粒子数分布的方法在审
| 申请号： | 201310687358.1 | 申请日： | 2013-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN104713645A | 公开（公告）日： | 2015-06-17 |
| 发明（设计）人： | 李留成;多丽萍;金玉奇;唐书凯;李国富;王元虎;于海军;汪健;王增强;曹靖 | 申请（专利权）人： | 中国科学院大连化学物理研究所 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01K13/00;G01K11/30 |
| 代理公司： | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人： | 刘阳 |
| 地址： | 116023 *** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种同时测量HF转动温度和振动能级粒子数分布的方法，它基于自发辐射荧光光谱技术，是一种利用直线作图法同时测量HF分子转动温度和振动能级粒子数分布的新方法。本发明主要应用于HF化学激光测试诊断技术领域，可以同时测量转动温度和振动粒子数分布，只需要将HF基频自发辐射荧光光谱各个振转谱带的P支谱线强度进行简单的处理之后作图即可，具有简单方便、直观准确、非侵入性等特点。利用本发明，可以实现HF化学激光器中转动温度和振动激发态各个能级粒子数分布的同时快速测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 同时 测量 hf 转动 温度 振动 能级 粒子 分布 方法 | ||
【主权项】：
一种同时测量HF转动温度和振动能级粒子数分布的方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：（1）HF基频辐射光谱的测量和处理；（2）对(1‑0)的R支数据作图得到一条直线，利用直线的斜率得到HF分子的转动温度；（3）对1‑0,2‑1,3‑2三个振动谱带的P支数据作图得到三条直线，利用不同直线的截距得到HF分子v=1,2,3等振动能级的粒子数分布情况。
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