[发明专利]基于平面光栅的三维视觉位姿测量装置及其测量方法有效

专利信息
申请号: 201310676383.X 申请日: 2013-12-07
公开(公告)号: CN103712603A 公开(公告)日: 2014-04-09
发明(设计)人: 屈桢深;乔宇;李思聪;李清华;王常虹 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01C11/00 分类号: G01C11/00;G01C11/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150001 黑龙江省哈尔滨市*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 发明涉及一种基于平面光栅的三维视觉位姿测量装置及其测量方法,装置包括图像采集装置、平面光栅标志器、背光光源、图像和数据处理系统和固定标志器平台,图像采集装置与图像和数据处理系统电信号连接,背光光源紧贴于平面光栅标志器下部与其固定连接,背光光源固定于固定标志器平台上,图像采集装置实时采集平面光栅标志器的图像,并将图像传至图像和数据处理系统测量方法包括以下步骤:对采集图像进行预处理;提取标志器的光栅暗条纹及辅助标识特征;使用辅助特征进行位姿粗估计;使用粗、精多组光栅计算精确角度偏移量;将粗、精计算结果进行数据融合,得到最终位姿估计结果。本发明实现了高精度的三维位姿测量,测量自动化程度高。
搜索关键词: 基于 平面 光栅 三维 视觉 测量 装置 及其 测量方法
【主权项】:
一种基于平面光栅的三维视觉位姿测量装置,包括图像采集装置、平面光栅标志器、背光光源、图像和数据处理系统和固定标志器平台,其特征在于:图像采集装置与图像和数据处理系统电信号连接,背光光源紧贴于平面光栅标志器下部与其固定连接,背光光源固定于固定标志器平台上,图像采集装置实时采集平面光栅标志器的图像,并将图像传至图像和数据处理系统;所述的平面光栅标志器包括双层透射光栅片和光栅图案,光栅图案设置在双层透射光栅片上;所述的图像和数据处理系统包括计算机硬件、图像和数据处理软件和显示设备,通过图像采集装置将采集到的数字图像首先在计算机硬件中暂存,然后应用图像和数据处理软件完成图像处理、视觉检测和相对位姿计算,最后将测量结果在显示设备上显示。
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