[发明专利]双向多步DeBruijn图的突出端识别与去除方法有效

专利信息
申请号: 201310672168.2 申请日: 2013-12-10
公开(公告)号: CN103699814B 公开(公告)日: 2017-02-01
发明(设计)人: 孟金涛;张慧琳;彭丰斌;魏彦杰;冯圣中 申请(专利权)人: 深圳先进技术研究院
主分类号: G06F19/10 分类号: G06F19/10
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙)44316 代理人: 沈祖锋,郝明琴
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种双向多步De Bruijn图的突出端识别与去除方法,包括步骤,S1、读取测序数据源文件,并构造双向多步De Bruijn图;S2、设定所述双向多步De Bruijn图中的每个顶点u的数据结构,对所述双向多步De Bruijn图突出端双向边的识别;S3、对所述双向多步De Bruijn图突出端双向边的去除。本发明基于相关节点的结构信息以及边的相对丰度来判别该突出端是否可以被删除,本发明方法的判别方式比以前的方法更精细,考虑的De Bruijn图中的信息更多;可以有效的删除突出端双向边,从而可以一定程度上提高contigs的长度,同步提高contig的质量。
搜索关键词: 双向 debruijn 突出 识别 去除 方法
【主权项】:
一种双向多步De Bruijn图的突出端识别与去除方法,其特征在于,包括步骤,S1、读取测序数据源文件,并构造双向多步De Bruijn图;S2、设定所述双向多步De Bruijn图中的每个顶点u的数据结构,对所述双向多步De Bruijn图突出端双向边的识别;S3、对所述双向多步De Bruijn图突出端双向边的去除。
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