[发明专利]一种纳米线衬底结构及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201310670650.2 申请日: 2013-12-10
公开(公告)号: CN103633123A 公开(公告)日: 2014-03-12
发明(设计)人: 孙兵;刘洪刚;赵威;王盛凯;常虎东 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L29/20 分类号: H01L29/20;H01L29/205;H01L29/78;H01L21/02;B82Y10/00;B82Y40/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种纳米线衬底结构及其制备方法,该纳米线衬底结构包括:单晶衬底;形成于单晶衬底上的缓冲层;形成于缓冲层上的牺牲层;以及形成于牺牲层上的纳米线结构层。本发明是在磷化铟和砷化镓衬底上形成铟镓砷纳米线结构,为铟镓砷沟道纳米线环栅MOSFET提供基础,可应用于CMOS集成技术中,采用铟镓砷来替代硅作为沟道材料有利于提高NMOSFET的电学特性,而纳米线环栅场效应晶体管结构的栅控能力强,可以有效抑制MOSFET的短沟效应,提高器件电学特性。
搜索关键词: 一种 纳米 衬底 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
一种纳米线衬底结构,其特征在于,该纳米线衬底结构包括:单晶衬底(1);形成于单晶衬底(1)上的缓冲层(6);形成于缓冲层(6)上的牺牲层(2b);以及形成于牺牲层(2b)上的纳米线结构层(5)。
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