[发明专利]基于ARM 处理器控制的LCM 测试装置在审
| 申请号： | 201310666255.7 | 申请日： | 2013-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN104698617A | 公开（公告）日： | 2015-06-10 |
| 发明（设计）人： | 高鹏 | 申请（专利权）人： | 大连龙宁科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 大连东方专利代理有限责任公司 21212 | 代理人： | 曲永祚 |
| 地址： | 116318 辽宁省*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于ARM处理器控制的LCM测试装置，包括电源转换电路和测试控制电路，所述测试控制电路与待测液晶模组相连接，所述电源转换电路上设置有多个外部接口电路，所述电源转换电路上连接有电压调节模块，所述电源转换电路通过电压调节模块与测试控制电路相连接。本发明公开的基于ARM处理器控制的LCM测试装置，利用测试控制电路与待测液晶模组相连接，首先进行电压转换，将电压值调整到合适待测液晶模组工作的电压范围，然后利用ARM处理器驱动存储器内部的程序和图像信息进行LCM测试，并将测试的图形信息和数据信息显示在显示电路上。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 arm 处理器 控制 lcm 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种基于ARM处理器控制的LCM测试装置，其特征在于：包括电源转换电路和测试控制电路，所述测试控制电路与待测液晶模组相连接，所述电源转换电路上设置有多个外部接口电路，所述电源转换电路上连接有电压调节模块，所述电源转换电路通过电压调节模块与测试控制电路相连接。
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