[发明专利]一种电容式Si基辐射探测器件及其制备方法有效
申请号: | 201310655229.4 | 申请日: | 2013-12-05 |
公开(公告)号: | CN103700719A | 公开(公告)日: | 2014-04-02 |
发明(设计)人: | 杨凌 | 申请(专利权)人: | 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所 |
主分类号: | H01L31/119 | 分类号: | H01L31/119;H01L31/0224;H01L31/18 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 陆万寿 |
地址: | 710068 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 一种电容式Si基辐射探测器件及其制备方法,该器件包括Si衬底层,Si衬底层的上方设有埋氧层,埋氧层上从中心向四周依次设有金属填充区、栅介质区、Si薄膜层、欧姆接触注入区和氧化隔离层,欧姆接触注入区的上方设有欧姆接触区,金属填充区的上方设有栅极金属电极。该器件辐射灵敏度高、感生电荷容量高、工作栅电压低、可靠性高。方法为:在基片上生长氧化隔离层;轻重离子掺杂形成欧姆接触注入区;溅射淀积形成欧姆接触区;刻蚀形成凹槽区;原子层淀积工艺形成栅介质区;二次刻蚀形成金属填充凹槽区;采用Cu互联工艺形成金属填充区和栅极金属电极。该方法工艺简单、重复性好、成本低、易于和现有的大规模集成电路的制作工艺整合。 | ||
搜索关键词: | 一种 电容 si 辐射 探测 器件 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种电容式Si基辐射探测器件,其特征在于:包括Si衬底层(1),Si衬底层(1)的上方设有埋氧层(2),埋氧层(2)上从中心向四周依次设有金属填充区(8)、栅介质区、Si薄膜层(4)、欧姆接触注入区(5)和氧化隔离层(3),欧姆接触注入区(5)的上方设有欧姆接触区(9),金属填充区(8)的上方设有栅极金属电极(10)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的