[发明专利]一种电容式Si基辐射探测器件及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201310655229.4 申请日: 2013-12-05
公开(公告)号: CN103700719A 公开(公告)日: 2014-04-02
发明(设计)人: 杨凌 申请(专利权)人: 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
主分类号: H01L31/119 分类号: H01L31/119;H01L31/0224;H01L31/18
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 陆万寿
地址: 710068 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种电容式Si基辐射探测器件及其制备方法,该器件包括Si衬底层,Si衬底层的上方设有埋氧层,埋氧层上从中心向四周依次设有金属填充区、栅介质区、Si薄膜层、欧姆接触注入区和氧化隔离层,欧姆接触注入区的上方设有欧姆接触区,金属填充区的上方设有栅极金属电极。该器件辐射灵敏度高、感生电荷容量高、工作栅电压低、可靠性高。方法为:在基片上生长氧化隔离层;轻重离子掺杂形成欧姆接触注入区;溅射淀积形成欧姆接触区;刻蚀形成凹槽区;原子层淀积工艺形成栅介质区;二次刻蚀形成金属填充凹槽区;采用Cu互联工艺形成金属填充区和栅极金属电极。该方法工艺简单、重复性好、成本低、易于和现有的大规模集成电路的制作工艺整合。
搜索关键词: 一种 电容 si 辐射 探测 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
一种电容式Si基辐射探测器件,其特征在于:包括Si衬底层(1),Si衬底层(1)的上方设有埋氧层(2),埋氧层(2)上从中心向四周依次设有金属填充区(8)、栅介质区、Si薄膜层(4)、欧姆接触注入区(5)和氧化隔离层(3),欧姆接触注入区(5)的上方设有欧姆接触区(9),金属填充区(8)的上方设有栅极金属电极(10)。
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