[发明专利]IGBT开关特性测试电路和测试方法无效
| 申请号： | 201310637053.X | 申请日： | 2013-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN103592592A | 公开（公告）日： | 2014-02-19 |
| 发明（设计）人： | 张强 | 申请（专利权）人： | 西安永电电气有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 常亮 |
| 地址： | 710016 陕西省*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种IGBT开关特性测试电路，包括：电容；电源，连接于所述电容的两端，并用以对所述的电容进行充电；第一开关，连接于所述电源和电容之间；连接于所述电容两端的测试电路，所述的测试电路包括串联的第二开关、电感线圈、IGBT以及与所述电感线圈并联的二极管，所述的IGBT为被测器件。本发明还公开了一种IGBT开关特性测试方法。利用本发明的测试电路和测试方法，可以在测试过程中提供稳定的电流，而且测量灵活、准确。 | ||
| 搜索关键词： | igbt 开关 特性 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
一种IGBT开关特性测试电路，其特征在于，包括：电容；电源，连接于所述电容的两端，并用以对所述的电容进行充电；第一开关，连接于所述电源和电容之间；连接于所述电容两端的测试电路，所述的测试电路包括串联的第二开关、电感线圈、IGBT以及与所述电感线圈并联的二极管，所述的IGBT为被测器件。
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