[发明专利]用于多光谱辐射测温系统的发射率系数自校准装置及方法有效

专利信息
申请号: 201310633960.7 申请日: 2013-11-29
公开(公告)号: CN103630249A 公开(公告)日: 2014-03-12
发明(设计)人: 陈绍武;张磊;陶蒙蒙;刘福华;吴勇;冯刚;赵海川 申请(专利权)人: 西北核技术研究所
主分类号: G01J5/60 分类号: G01J5/60;G01N21/27
代理公司: 西安文盛专利代理有限公司 61100 代理人: 李中群
地址: 710024 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种多光谱辐射测温系统的发射率系数自校准装置和方法,包括宽谱光源和依次设置在宽谱光源出射光路上的入射准直透镜组、出射准直透镜组,待测量火焰设置在入射准直透镜组和出射准直透镜组之间。本发明在多光谱辐射测温系统所穿过测量火焰的相同路径上,设置了发射率系数自校准系统,通过记录宽谱光源、火焰、宽谱光源联合火焰的光谱参数,得到了不同波长下的火焰发射率系数,用于多光谱辐射测温系统的参数校正,克服了传统理论计算修正中的模型误差,提高了测量不确定度。
搜索关键词: 用于 光谱 辐射 测温 系统 发射 系数 校准 装置 方法
【主权项】:
用于多光谱辐射测温系统的发射率系数自校准装置,特征在于:包括宽谱光源(1)和依次设置在宽谱光源出射光路上的入射准直透镜组(3)、出射准直透镜组(5),所述的待测量火焰(4)设置在入射准直透镜组(3)和出射准直透镜组(5)之间,宽谱光源(2)出射光经过入射准直透镜组(3)准直后,穿过火焰的待测量区域,并经出射准直透镜组(5),耦合进用于多光谱辐射测温的光谱仪(6)。
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