[发明专利]基于自对准埋栅结构的二维材料场效应晶体管的制造方法有效

专利信息
申请号: 201310626500.1 申请日: 2013-11-29
公开(公告)号: CN103700592A 公开(公告)日: 2014-04-02
发明(设计)人: 吴云;周建军;霍帅 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第五十五研究所
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;B82Y10/00
代理公司: 南京君陶专利商标代理有限公司 32215 代理人: 沈根水
地址: 210016 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明是一种基于自对准埋栅结构的二维材料场效应晶体管制造方法,在高阻衬底上制备源、漏电极,用平板印刷术制备自对准区,以薄层金属将源、漏电极连接起来,之后在自对准区中用平板印刷术制备出栅电极图形,并将自对准区中连接源漏电极的金属从光刻栅图形下腐蚀隔开,实现自对准,同一光刻图形下生长栅电极、栅介质完成埋栅结构,最后将二维材料转移至以上准备的基片上,制备出自对准埋栅结构的二维材料场效应晶体管。优点:该设计方法形成的自对准结构,有利于减小源漏之间的寄生电阻。同时为了减弱沟道区受到衬底和栅介质的散射,将栅极做在二维材料导电沟道下方,也避免了顶栅制备时对二维材料的损伤,从而提升二维材料场效应晶体管的性能。
搜索关键词: 基于 对准 结构 二维 材料 场效应 晶体管 制造 方法
【主权项】:
一种基于自对准技术埋栅结构的二维材料场效应晶体管制造方法,其特征在于将自对准技术同埋栅结构融合在一起,具体制作步骤如下:1)在绝缘衬底上以平面光刻显影技术制备出场效应晶体管的源极、漏极、栅极图形,金属生长后辅以溶胶剥离工艺制备场效应晶体管的源极、漏极以及栅极的电极;2)在源极、漏极之间以相同的平面光刻、金属生长、剥离工艺制备出自对准区,以薄层金属将源、漏电极连接起来;3)在自对准区内以平面光刻显影技术制备出栅电极图形;4)将自对准区中连接源、漏电极的金属从光刻栅图形下刻蚀隔开,侧向刻蚀确保下一步的制备的栅极同源、漏隔离,实现自对准;5)同一光刻图形下先后以生长金属作为栅电极、生长绝缘材料作为栅介质,之后溶胶剥离完成埋栅结构;6) 以转移法将二维材料转移到以上准备的基片上;7)以平面光刻显影技术制备出图形,暴露出晶体管之间,栅电极和源漏电极之间的二维材料,以刻蚀技术除掉实现隔离,完成自对准埋栅结构的二维材料场效应晶体管制备。
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