[发明专利]盘条碳偏析定量检测方法无效

专利信息
申请号: 201310624451.8 申请日: 2013-11-28
公开(公告)号: CN103604824A 公开(公告)日: 2014-02-26
发明(设计)人: 孙宜强;张萍;陈士华;王志奋;吴立新;周顺兵;许竹桃;张彦文;黄海娥 申请(专利权)人: 武汉钢铁(集团)公司
主分类号: G01N23/225 分类号: G01N23/225
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 胡镇西;孙林
地址: 430080 湖北省武汉市武昌区*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种盘条碳偏析定量检测方法,包括以下步骤:1)截取盘条横截面试样,制备金相试样;2)沿盘条横截面试样直径做碳元素线扫描;3)用一组铁基碳标样分别进行点测量,记录所得的特征X射线强度,建立X射线强度与标样碳含量之间关系的工作曲线;4)用工作曲线对试样的线扫描结果进行定量修正计算;5)根据计算得出中心处碳含量最大值Cm和整个直径上碳含量的平均值Ca,试样的盘条碳偏析指数P=Cm/Ca。本发明可以同时测量盘条基体和中心偏析处的碳含量,用两者的比值作为碳偏析的表征指标,可以得出中心碳偏析的定量测量结果,对于生产工艺改进和新钢种研发工作具有重要的指导意义。
搜索关键词: 盘条碳 偏析 定量 检测 方法
【主权项】:
一种盘条碳偏析定量检测方法,包括以下步骤:1)截取盘条横截面试样,经镶嵌、磨制、抛光后得到金相磨面,采用质量分数为3~5%的硝酸酒精溶液浸蚀10~20秒后吹干;2)用电子探针波谱仪沿盘条横截面试样直径做碳元素线扫描,测量条件为:加速电压10~30kV,电子束电流100~1000nA,电子束斑直径1~20μm;3)同时采用与步骤2)中一样的测量条件对一组铁基碳标样分别进行点测量,记录所得的特征X射线强度,然后建立X射线强度与标样碳含量之间关系的工作曲线;4)对步骤2)中试样的碳元素线扫描结果进行线分析,把线分析得到的各个点的特征X射线强度代入工作曲线,求得整个线扫描每点碳含量的定量数据;5)线扫描得到的试样中心部位碳含量最大值即为中心偏析处的碳含量最大值Cm,线扫描每个点的碳含量的算术平均值即为试样的碳含量平均值Ca,试样的盘条碳偏析指数P=Cm/Ca。
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