[发明专利]一种基于正则化的MRI图像非均匀性校正方法有效

专利信息
申请号: 201310618046.5 申请日: 2013-11-27
公开(公告)号: CN103632345A 公开(公告)日: 2014-03-12
发明(设计)人: 凌强;李朝辉;宋凯凯;李峰 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 杨学明;顾炜
地址: 230026 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明提供一种基于正则化的MRI图像非均匀性校正方法,通过对低通滤波方法进行改进,选取灰度值相差不大的一部分区域进行低通滤波、以获得非均匀场的初始估计,然后通过一种正则化的多项式拟合方法进行外推,获得全图像的非均匀场估计。本发明确定感兴趣区域进行滤波,以避免全局图像滤波方法中的边界效应;正则化方法拟合,能够保证在提高拟合阶次的情况下不会过拟合。
搜索关键词: 一种 基于 正则 mri 图像 均匀 校正 方法
【主权项】:
1.一种基于正则化的MRI图像非均匀性校正方法,其特征在于利用一种正则化的拟合方法获取平滑的非均匀场估计,具体流程如下:步骤一、感兴趣区域的确定:首先获得去掉背景区域的图像直方图,找到峰值p,然后计算出图像噪声的方差σ2;最后,感兴趣区域RoI,即标识感兴趣区域的二维矩阵,每个元素对应的坐标如果是感兴趣区域,标记为1,否则标记为0,通过以下公式得到:RoI(x)=1p-5σ<v(x)<p+5σ0other]]>其中RoI(x)是点x是否属于感兴趣区域的指示器,如果x属于感兴趣区域,则RoI(x)=1,如果不属于则RoI(x)=0,区间[p-5σ,p+5σ]即代表感兴趣区域的图像灰度变化范围;步骤二、低通滤波:确定出感兴趣区域之后,对区域内的点进行同态域低通滤波,假设待校正的原始图像用v表示,则点x的灰度值为v(x),滤波步骤如下:1.将RoI内的图像变换到对数域:Ilog=log(v(RoI))其中,v代表扫描获得的图像,RoI代表感兴趣区域;2.对Ilog进行低通滤波:Ifilt=LPF(Ilog)其中,LPF(·)代表低通滤波器;3.由于低通滤波在边缘处包含大量空白区域,为了防止边界效应,对感兴趣区域的二元掩膜RoI进行滤波:RoIfilt=LPF(RoI)4.最后通过以下公式得到滤波后的粗略的非均匀度:u^(RoI)=exp(Ifilt/RoIfilt)]]>其中,即代表粗略估计的非均匀度;由于滤波校正的缺点,肯定多余地包含了许多图像低频信息,并存在边界效应,并且只对感兴趣区域内的点进行了校正;步骤三、正则化多项式拟合:一旦估计出感兴趣区域内的局部非均匀场,全局的非均匀场就能够通过多项式拟合,为了防止过拟合现象,利用了正则化的拟合方法来达到较为精确的估计,选择n阶多项式作为拟合曲面,对估计的感兴趣区域内的非均匀度进行拟合,假设选择k阶多项式,则包含项其中l+m≤k,l≥0,m≥0并且rx与ry分别为图像像素的水平方向和竖直方向的坐标,对于给定的k阶多项式,一共有K=(k+1)(k+2)/2个项,设为Fi(r)(i=1,…,K),假设各项系数为wi,i=1,…,K,则多项式拟合通过最小化下列代价函数来实现:J(w)=minw{12Σn=1N(U^-FW)2+λ2||W||2]]>其中W=ω1ω2···ωK,F=F1(r)F2(r)...FK(r1),]]>λ为惩罚因子,是感兴趣区域中的每个点的非均匀度组成的向量,通过加入使得拟合的多项式参数不至于过大,从而抑制了多项式的过拟合,使得最终曲面为平滑缓慢变化的,更符合精确的非均匀场,上述公式的求解如下:在此步骤中,λ是一项决定非均匀场平滑度的重要参数,通过比较不同λ值拟合出的非均匀场来调节获得一个最佳的λ;获得多项式系数之后,就能够通过外推得到全图像的非均匀估计:g(r)=[F1(r),F2(r),…,FK(r)]W步骤四、迭代:当得到最终估计的非均匀场后,对原始图像进行校正,假设原始图像的灰度值为v(x),那么有:Icorrect(x)=v(x)/g(x)在校正时不包含空白的背景区域,即x只代表图像区域的坐标,获得校正的图像,将Icorrect(x)赋值给v(x),并带入下一次迭代重复以上校正过程,对图像进行下一轮校正,这样能有效提高非均匀场估计的准确度,当估计出的非均匀场的变化范围在感兴趣区域小于一定的阈值时,代表图像已经足够均匀,这时停止迭代,最终获得了较为均匀的校正图像。
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