[发明专利]低温沉积柔性晶态氧化铟锡透明导电薄膜的制备方法在审

专利信息
申请号: 201310611739.1 申请日: 2013-11-26
公开(公告)号: CN103590000A 公开(公告)日: 2014-02-19
发明(设计)人: 唐武;王雅琴 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: C23C14/08 分类号: C23C14/08;C23C14/35
代理公司: 成都虹桥专利事务所(普通合伙) 51124 代理人: 李凌峰
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及光电材料技术。本发明解决了现有低温下沉积的柔性ITO薄膜多处于非晶态的问题,提供了一种低温沉积柔性晶态氧化铟锡透明导电薄膜的制备方法,其技术方案可概括为:采用低温沉积柔性晶态氧化铟锡透明导电薄膜的制备方法进行制备,得到一种ITO薄膜,该ITO薄膜下方为衬底,衬底上方为中间薄膜层,中间薄膜层的上方为ITO薄膜层。本发明的有益效果是,生成的ITO薄膜具有低温沉积、导电性好、可见光透过率高及附着力强,适用于ITO薄膜。
搜索关键词: 低温 沉积 柔性 晶态 氧化 透明 导电 薄膜 制备 方法
【主权项】:
低温沉积柔性晶态氧化铟锡透明导电薄膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、对衬底进行清洁,放入磁控溅射反应室基底;步骤2、将中间薄膜靶材放入磁控溅射反应室靶位,靶位与基底相对应并具有一定垂直距离;步骤3、利用高真空多功能射频溅射镀膜设备,对磁控溅射反应室进行抽真空;步骤4、抽真空完毕后选择第一氧氩比通入高纯度氩气和氧气,保持第一工作气压;步骤5、射频磁控溅射在衬底上沉积中间薄膜层;步骤6、将中间薄膜靶材更换为ITO靶材,对磁控溅射反应室进行抽真空;步骤7、抽真空完毕后选择第二氧氩比通入高纯度氩气和氧气,保持第二工作气压;步骤8、射频磁控溅射在中间薄膜层上沉积ITO薄膜层。
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