[发明专利]日盲紫外滤光片带外截止深度测试装置有效

专利信息
申请号: 201310603534.9 申请日: 2013-11-25
公开(公告)号: CN103616162A 公开(公告)日: 2014-03-05
发明(设计)人: 周跃;崔穆涵;陈雪;章明朝;闫丰;隋永新 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 陶尊新
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 日盲紫外滤光片带外截止深度测试装置,涉及滤光片参数测试技术领域,解决带外深度截止滤光片的截止深度无法测试的问题,包括:光源;暗箱,位于所述光源前方,侧面设置有入光口;孔径光阑,位于所述入光口和所述光源之间,用来控制进入所述入光口的光能量;滤光片盒与衰减片盒,位于所述暗箱内部,分别用来盛放滤光片与衰减片,其中所述衰减片盒中按照多片级联V形布局的衰减片槽可使每排所述衰减片相互垂直;光电倍增管,位于所述暗箱内部并与所述入光口同轴放置,所述光电倍增管与探测装置共同组成的光电探测器用于探测所述光源通过所述滤光片和所述衰减片的输出电信号,本发明结构简单易于操作。
搜索关键词: 紫外 滤光 片带外 截止 深度 测试 装置
【主权项】:
日盲紫外滤光片带外截止深度测试装置,其特征是,该装置包括:光源(1);暗箱(2),位于所述光源(1)前方,侧面设置有一个入光口;孔径光阑(3),位于所述入光口和光源(1)之间,用于控制进入入光口的光能量;滤光片盒(4)与衰减片盒(5),位于所述暗箱(2)内部,分别用于盛载滤光片与衰减片,所述衰减片盒(5)内的衰减片相互垂直放置;光电倍增管(6),位于暗箱(2)内部并与入光口同轴,所述光电倍增管(6)与探测装置(10)共同组成的光电探测器(11),用于探测所述光源(1)通过所述滤光片和所述衰减片的输出电信号。
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