[发明专利]一种二氧化钛表面羟基含量的测定方法有效
申请号: | 201310577762.3 | 申请日: | 2013-11-18 |
公开(公告)号: | CN104048895A | 公开(公告)日: | 2014-09-17 |
发明(设计)人: | 苏洋;杨敏 | 申请(专利权)人: | 攀钢集团攀枝花钢铁研究院有限公司 |
主分类号: | G01N5/04 | 分类号: | G01N5/04 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 李婉婉;张苗 |
地址: | 617000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明涉及一种能够定量测定二氧化钛样品表面羟基含量的方法,该方法的步骤为:A、准确称取m质量的二氧化钛样品,烘干至恒重m1,所述烘干温度为220~250℃;B、准确称取m2质量的步骤A所得二氧化钛样品均匀分散在水中;C、在加热搅拌反应条件下,将步骤B均匀分散的所述二氧化钛样品与盐酸标准溶液或硝酸标准溶液接触;D、将步骤C接触后所得的混合物进行固液分离,得到分离溶液;E、将步骤D中的分离溶液定容到一定体积,得到定容后溶液;F、测定步骤E中所述定容后溶液的pH值。根据公式1和公式2计算二氧化钛表面羟基的含量。本发明的方法能准确定量测定二氧化钛样品表面羟基的含量,且操作简单。 | ||
搜索关键词: | 一种 氧化 表面 羟基 含量 测定 方法 | ||
【主权项】:
一种测定二氧化钛表面氢键合羟基含量的方法,该方法包括以下步骤:A、准确称取m质量的二氧化钛样品,烘干至恒重m1,所述烘干温度为220‑250℃;B、根据如下计算公式确定所述二氧化钛样品中表面氢键合羟基含量:![]()
公式1式中:m—称取的二氧化钛样品的质量,g; m1—烘干至恒重后二氧化钛样品的质量,g。
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