[发明专利]一种半导体激光器堆栈小单元测试、老化的装置及方法

摘要

本发明公开了一种半导体激光器堆栈小单元测试、老化装置及方法，该装置包括：一固定在基座支架上的夹具主体，该夹具主体有冷却水道、负极接入孔、凹槽、半圆形凹槽、定位槽；一滑动压块，该滑动压块底部粘有一尺寸与之相同的绝缘陶瓷片，滑动压块有两螺丝定位孔、正极接入孔及方孔；凹槽下臂的定位槽用于放置、固定堆栈小单元，滑动压块位于凹槽上方，利用塑料螺丝通过夹具主体上壁上的定位孔将滑动压块与堆栈小单元紧密连接；连通冷却水，连接正负极进行测试、老化。本发明操作简单，散热较好，利用本装置可实现堆栈小单元在工作电流条件下的性能测试及老化。

主权项

一种半导体激光器堆栈小单元测试、老化装置，包括基座、夹具主体、滑动压块，其中：一基座，基座上固定有两个垂直支架，用于固定夹具主体；一凹槽结构的夹具主体，通过其两端的伸出臂与基座上的两个支架分别连接，使凹槽开口朝向水平方向，夹具主体凹槽的上、下壁与基座平行；其中，所述夹具主体凹槽下壁为二级台阶状，下阶面中部设有定位槽，用于放置堆栈小单元，定位槽的深度为堆栈小单元宽度的1/4‑1/3；在夹具主体凹槽下壁内部有冷却水通道，夹具主体底部有一电极接入端；一滑动压块，位于夹具主体凹槽内定位槽的上方，用于压紧放置在定位槽内的堆栈小单元；滑动压块前表面有一电极接入端，在通电时滑动压块与夹具主体之间保持绝缘；以上所述夹具主体和滑动压块均为导电导热材料。