[发明专利]基于MEMS技术的接触式四电极盐度传感器的制备方法在审

专利信息
申请号: 201310561955.X 申请日: 2013-11-12
公开(公告)号: CN103601147A 公开(公告)日: 2014-02-26
发明(设计)人: 唐观荣;陈秋兰;邸思;金建;陈贤帅 申请(专利权)人: 广州中国科学院先进技术研究所
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00
代理公司: 深圳汇智容达专利商标事务所(普通合伙) 44238 代理人: 熊贤卿
地址: 511458 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种基于MEMS技术的接触式四电极盐度传感器的制备方法,包括以下步骤:以石英片作为衬底,在石英片正面磁控溅射淀积一层Si3N4薄膜;在Si3N4薄膜上涂一层光刻胶,以电极图形作为掩膜板,紫外光曝光后除掉曝光的光刻胶;在处理后的石英片正面磁控溅射一层Pt薄膜;在丙酮中剥离光刻胶和光刻胶上面的Pt;在基片上表面再涂一层光刻胶,用与电极图形互补的图形作为掩膜板,紫外光曝光后除掉曝光的光刻胶;在石英片正面和背面磁控溅射一层Si3N4薄膜;在丙酮中剥离光刻胶和光刻胶上面的Si3N4。本发明制备方法工艺步骤简单,采用致密性高的氮化硅薄膜作为保护层,与集成电路制备工艺兼容。
搜索关键词: 基于 mems 技术 接触 电极 盐度 传感器 制备 方法
【主权项】:
一种基于MEMS技术的接触式四电极盐度传感器的制备方法,其特征在于:包括以下步骤:(1)选取石英片作为衬底,清洗干净;(2)在石英片正面磁控溅射淀积一层Si3N4薄膜;(3)在Si3N4薄膜上涂一层光刻胶,以电极图形作为掩膜板,紫外光曝光;用相应的显影液除掉曝光的光刻胶;(4)在步骤(3)处理后的石英片正面磁控溅射一层Pt薄膜;(5)在丙酮中剥离光刻胶,去除光刻胶上面的Pt薄膜;(6)用与电极图形互补的图形作为掩膜板,重复步骤(3);(7)在石英片正面和背面磁控溅射一层Si3N4薄膜;(8)在丙酮中剥离光刻胶,去除光刻胶上面的Si3N4薄膜。
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