[发明专利]一种基于热光学像质最优的光学遥感器精密控温方法有效
| 申请号： | 201310526831.8 | 申请日： | 2013-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN103592978A | 公开（公告）日： | 2014-02-19 |
| 发明（设计）人： | 于波;李春林;王兵;程少园;王小勇;赵振明;赵宇;杨涛 | 申请（专利权）人： | 北京空间机电研究所 |
| 主分类号： | G05D23/30 | 分类号： | G05D23/30 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 褚鹏蛟 |
| 地址： | 100076 北京市丰*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于热光学像质最优的光学遥感器精密控温方法，通过适用于扩展目标的位相差法波前探测器完成对地观测模式下光学遥感器的波前探测，获得波前像差；根据所述探测到的波前像差和热光学灵敏度分析表确定关键温度点的控温目标值，所述热光学灵敏度分析表中存储了关键温度点对波前像差的灵敏度系数dQ/dTi；根据温度测量值和所述控温目标值计算温度偏差，根据所述温度偏差对温度进行控制，直至达到控温目标值。本发明首次提出以最终的光学成像质量作为温度控制目标的方法，可有效保证系统的像质并避免温度指标分解引入的多级余量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光学 最优 遥感 精密 方法 | ||
【主权项】：
一种基于热光学像质最优的光学遥感器精密控温方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）通过适用于扩展目标的位相差法波前探测器完成对地观测模式下光学遥感器的波前探测，获得波前像差；（2）根据所述探测到的波前像差和热光学灵敏度分析表确定关键温度点的控温目标值，所述热光学灵敏度分析表中存储了关键温度点对波前像差的灵敏度系数dQ/dTi；（3）根据温度测量值和所述控温目标值计算温度偏差，根据所述温度偏差对温度进行控制，直至达到控温目标值。
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