[发明专利]一种开放光路式气体分析仪通量校正测量装置及测量方法有效
| 申请号： | 201310512524.4 | 申请日： | 2013-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN103528952A | 公开（公告）日： | 2014-01-22 |
| 发明（设计）人： | 赵欣;桂华侨;余同柱 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G01N21/00 | 分类号： | G01N21/00 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 孟卜娟 |
| 地址： | 230031 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 一种开放光路式气体分析仪通量校正测量装置及方法，包括：温度探测器，用于探测气体测量仪表面温度；帕尔贴制冷元件，与光路底部外壳相接触，用于调整仪器外壳温度；装有红外滤光片的码盘，所述码盘周长边沿刻有等间距排列的狭缝，所述码盘在测量气体的转动过程中，通过狭缝产生斩波信号，用于同步触发A/D模块采集温度探测器上的信号；基于DSP和CPLD的温控电路，根据所述码盘转动的同步信号，采集所述温度探测器的温度数据，产生脉宽调制信号（PMW）驱动帕尔贴元件制冷；同时根据所述温度数据进行运算处理，产生WPL通量校准项，对通量进行实时校准。本发明通过实时温差数据计算出WPL通量校准项，可进一步提高气体分析仪的测量精度和稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 开放 光路式 气体 分析 通量 校正 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
一种开放光路式气体分析仪通量校正测量装置，其特征在于包括：一组温度探测器，根据光路表面形状，安装在气体测量仪外壳不同的位置，用于探测气体测量仪表面温度；一组帕尔贴制冷元件，安装在气体测量仪内部，与光路底部外壳相接触，用于调整仪器外壳温度；一个装有红外滤光片的码盘，所述码盘周长边沿刻有等间距排列的狭缝，所述码盘在测量气体的转动过程中，通过狭缝产生斩波信号，用于同步触发A/D模块采集温度探测器上的信号；一套基于DSP和CPLD的温控电路，根据所述码盘转动的同步信号，采集所述温度探测器的温度数据，产生脉宽调制信号（PMW）驱动帕尔贴元件制冷；同时根据所述温度数据进行运算处理，产生WPL通量校准项，对通量进行实时校准。
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