[发明专利]电子装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201310488725.5 申请日: 2013-10-17
公开(公告)号: CN103811460B 公开(公告)日: 2018-12-04
发明(设计)人: 克里斯托夫·迪尔内科;贝特霍尔德·斯陶费尔 申请(专利权)人: 德州仪器德国股份有限公司
主分类号: H01L23/522 分类号: H01L23/522;H01L21/768;H01L21/02
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 路勇
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种包括具有集成电路后端电容器及集成电路后端薄膜电阻器的半导体结构的电子装置及其制造方法。所述半导体结构包括第一电介质层、所述电容器的底板及薄膜电阻器主体。此外,存在安置于所述电容器的所述底板上及所述薄膜电阻器主体的顶部上的第二电介质层。所述电容器的顶板安置于所述第二电介质层上在所述第二电介质层的由所述电容器的所述底板的横向尺寸界定的区域中。所述底板及所述电阻器主体为两者均安置于所述第一电介质层上且由相同薄膜材料组成的横向间隔开的层。
搜索关键词: 包括 具有 集成电路 后端 电容器 薄膜 电阻器 半导体 结构 电子 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种包括具有集成电路后端电容器及集成电路后端薄膜电阻器的半导体结构的电子装置,所述半导体结构包括:第一电介质层;所述电容器的底板及薄膜电阻器主体;第二电介质层,其安置于所述电容器的所述底板上及所述薄膜电阻器主体上,及所述电容器的顶板,其安置于所述第二电介质层上在所述第二电介质层的由所述电容器的所述底板的横向尺寸界定的区域中,其中所述底板及所述电阻器主体为两者均安置于所述第一电介质层上且由相同薄膜材料组成的横向间隔开的层;其中所述第一电介质层沉积于所述半导体结构的第一金属化层上;其中用于所述电容器的所述底板及用于所述薄膜电阻器主体的所述薄膜材料由SiCr组成,所述第二电介质层由氮化硅组成,且所述电容器的所述顶板由氮化钛组成。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于德州仪器德国股份有限公司,未经德州仪器德国股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310488725.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top