[发明专利]IGBT模块壳温的实时估算方法有效
| 申请号: | 201310442045.X | 申请日: | 2013-09-25 |
| 公开(公告)号: | CN104458039B | 公开(公告)日: | 2019-01-18 |
| 发明(设计)人: | 赵一凡;方艺 | 申请(专利权)人: | 上海英威腾工业技术有限公司 |
| 主分类号: | G01K7/02 | 分类号: | G01K7/02 |
| 代理公司: | 上海天协和诚知识产权代理事务所 31216 | 代理人: | 张恒康 |
| 地址: | 200120 上海市浦东新区张江*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: |
本发明公开了一种IGBT模块壳温的实时估算方法,本方法在IGBT模块的散热片上安装温度传感器,建立热阻与热容并联的热电路模型,模拟IGBT模块外壳的热传导过程,热电路模型中采用电流来代替热量,热电路模型中热阻和热容根据IGBT模块电流输出频率进行线性调整,通过公式计算IGBT模块在第n个采样周期的温度传感器测量值与IGBT模块壳温的温度差 |
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| 搜索关键词: | igbt 模块 实时 估算 方法 | ||
【主权项】:
1.一种IGBT模块壳温的实时估算方法,其特征在于:本方法在IGBT模块的散热片上安装温度传感器,采用热阻与热容并联的热电路模型来模拟IGBT模块的芯片正下方IGBT模块外壳的热传导过程,在IGBT模块的载波频率固定、直流电压变化范围小的情况下,IGBT模块的损耗可近视看作与流过的电流成正比,热电路模型中采用电流来代替热量,当IGBT模块输出电流为正弦波时,IGBT模块损耗呈周期正弦形式,IGBT模块中芯片正下方的壳温具有周期性,其波动幅度随着频率降低而增高,热电路模型中热阻和热容根据IGBT模块电流输出频率进行线性调整,以准确测量IGBT模块中芯片正下方的最高壳温,IGBT模块在第n个采样周期中,温度传感器测量值与IGBT模块壳温的温度差ΔT(n)为:
式(1)中Cth为热容值、Rth为热阻值、ΔT(n‑1)为IGBT模块在第n‑1个采样周期的温度传感器测量值与IGBT模块壳温的温度差、Δt为采样周期时间、I为IGBT模块在第n个采样周期的电流,则IGBT模块在第n个采样周期中,IGBT模块壳温的估算值Tc(n)为:Tc(n)=Ts(n)+ΔT(n) (2)式(2)中Ts(n)为IGBT模块在第n个采样周期温度传感器测量值。
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