[发明专利]一种RAM检测方法及系统有效
| 申请号： | 201310436088.7 | 申请日： | 2013-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN103455436A | 公开（公告）日： | 2013-12-18 |
| 发明（设计）人： | 刘博;张阳;王载琼 | 申请（专利权）人： | 北京经纬恒润科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F12/02 | 分类号： | G06F12/02;G11C29/04 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 100101 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种RAM检测方法及系统，其中方法包括：预先对RAM空间进行分段处理，将RAM空间划分为一个存储重要数据的区域段及其他区域段，在操作系统启动时，对所述存储重要数据的区域段进行RAM检测；在当前操作系统的周期任务为预先设定的低优先级周期任务时，对所述其他区域段进行RAM检测。本发明实施例提供的RAM检测方法能够在不影响控制器的运行速度及执行时间的情况下，对RAM进行全面的检测，解除RAM所存在的安全隐患。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ram 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种随机存储器RAM检测方法，其特征在于，预先对RAM空间进行分段处理，将RAM空间划分为一个存储重要数据的区域段及其他区域段，所述方法包括：在操作系统启动时，对所述存储重要数据的区域段进行RAM检测；在当前操作系统的周期任务为预先设定的低优先级周期任务时，对所述其他区域段进行RAM检测。
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