[发明专利]无结晶体管及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201310401293.X 申请日: 2013-09-05
公开(公告)号: CN104425607B 公开(公告)日: 2017-07-14
发明(设计)人: 肖德元 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/10;H01L29/06;H01L21/336
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 骆苏华
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种无结晶体管及其制作方法,无结晶体管包括基底;形成于基底上的鳍,鳍的顶部在垂直于鳍延伸方向的截面呈半圆形,鳍具有第一掺杂类型的掺杂离子,并且离子浓度从鳍表面到鳍中心逐渐递减;横跨于鳍上的栅极结构;位于栅极结构两侧鳍中的源极和漏极,源极和漏极具有第一掺杂类型的掺杂离子。制作方法包括提供基底;图形化基底,形成鳍;对鳍的顶部进行至少一次的圆化处理,使鳍的顶部在垂直于鳍延伸方向的截面呈半圆形;对鳍进行第一掺杂类型的离子掺杂,使离子浓度从鳍表面到鳍中心逐渐递减;在鳍上形成横跨鳍的栅极结构;采用第一掺杂类型的掺杂离子对栅极结构两侧的鳍进行掺杂,形成源极和漏极。本发明能抑制短沟道效应。
搜索关键词: 结晶体 及其 制作方法
【主权项】:
一种无结晶体管,其特征在于,包括:基底;形成于所述基底上的鳍,所述鳍的顶部在垂直于鳍延伸方向上的截面呈半圆形,构成半圆窗形的鳍,所述鳍具有第一掺杂类型的掺杂离子,并且离子浓度从鳍的表面到鳍的中心逐渐递减;横跨于所述鳍上的栅极结构;位于所述栅极结构两侧的鳍中的源极和漏极,所述源极和漏极具有第一掺杂类型的掺杂离子。
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